詳細(xì)摘要： 可控硅測(cè)試儀（又名：全系列塑封可控硅、可控硅光耦測(cè)試儀），可以較準(zhǔn)確的測(cè)量大小功率可控硅（晶閘管）和模塊的觸發(fā)電流IGT、觸發(fā)電壓VGT、斷態(tài)不重復(fù)峰值電壓VD...

詳細(xì)摘要： 晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用指針式儀表和全手動(dòng)操作，此方法讀數(shù)慢而且不夠準(zhǔn)確，操作也比較繁瑣，不能適應(yīng)目前自動(dòng)化、大規(guī)模的生產(chǎn)方式。我們研制的晶閘管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)采用主...

詳細(xì)摘要： 本儀器設(shè)計(jì)*，操作簡(jiǎn)便，采用數(shù)字表顯示測(cè)試結(jié)果，具有精度高，重復(fù)性好，對(duì)被測(cè)器件自動(dòng)保護(hù)等特點(diǎn)。其測(cè)試原理符合GB4024-83標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，是電力半導(dǎo)體器件生產(chǎn)...

詳細(xì)摘要： 由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測(cè)量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻及...